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  1. 長野工業高等専門学校紀要(ISSN 1882-9155)
  2. 第34号

Space frequency analysis of microscope images by 2-dimensional fast Fourier transform

https://nagano-nct.repo.nii.ac.jp/records/268
https://nagano-nct.repo.nii.ac.jp/records/268
5a86f464-4ddc-41bb-8e38-9c53ad1a85ec
名前 / ファイル ライセンス アクション
nagano_nct-34-07.pdf nagano_nct-34-07.pdf (1.4 MB)
license.icon
Item type Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2013-02-19
タイトル
タイトル Space frequency analysis of microscope images by 2-dimensional fast Fourier transform
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Transmission electron microscopy
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Image analysis
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Fast Fourier transform
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Graphite intercalation compounds
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 OSHIDA, Kyoichi

× OSHIDA, Kyoichi

WEKO 542

OSHIDA, Kyoichi

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NAKAZAWA, Tatsuo

× NAKAZAWA, Tatsuo

WEKO 543

NAKAZAWA, Tatsuo

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The practical image analysis method for the microscope pictures of electrical materials is introduced. The frequency analysis of the digitized TEM pictures by using a 2-dimensional (2D) fast Fourier transform (FFT) and the real space images reconstruction by means of the 2D inverse FFT (IFFT) are mentioned. The concrete picture image reconstruction method by 2D-IFFT is illustrated.
書誌情報 長野工業高等専門学校紀要

巻 34, p. 41-47, 発行日 2000-12-27
出版者
出版者 長野工業高等専門学校
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0286-1909
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00179170
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-06-20 16:13:02.616436
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